芯片射頻傳導抗擾度測試系統
符合標準：GB/T 17626.6和IEC61000-4-6標準測試系統是諸多電子產品需要進行的抗擾度測試項目，近年來受到包括低壓電器、電力儀表等對電磁兼容要求較高的產品關注，因此根據試驗特點，按照用戶要求，整合業內優質產品資源，本著提供Z佳性價比，提供*的技術，優質的服務原則為用戶提供測試配置方案。

芯片射頻傳導抗擾度測試系統

產品參數：

CDG 6000/25  /CDG6000/75 

信號發生器:10kHz ~ 400MHz，調幅+調頻
功率放大器:75W(100kHz~300MHz)
RF電壓表:10kHz ~ 400MHz（自校準用）
6dB衰減器：100W
IEC 61000-4-6測試軟件，帶自校準功能，高測試等級25V，不帶衰減/測試等級40V附送測試桌系統

以及低壓電器產品涉及的射頻傳導抗擾度測試:

GB14048-2-2008 低壓開關設備和控制設備 第2部分：斷路器
GB14048-4-2003 低壓開關設備和控制設備 機電式接觸器和電動機啟動器
GB14048-9-2008 低壓開關設備和控制設備 第6-2部分：多功能電器（設備）控制與保護開關電器（設備）

芯片射頻傳導抗擾度測試系統產品介紹：

   該系統為*的世界接收機制造廠商——德國施羅得德(Schloder)公司產品
試驗配置:CDG6000堪稱是自動執行傳導抗擾度測試實驗的選擇。系統的基本配置性價比*，可以滿足通用的要求，指標滿足通行標準。
系統可擴展性佳，可兼容一系列的信號發生器，功率計，CDN和注入裝置。基本配置分為可以分為75W和25W主機,分別提供測試等級為40V和25V的測試。我們還提供提供從M1到M5各種不同電流規格的CDN和耦合鉗，可*覆蓋從電源到數據線信號線的抗擾度測試。